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立仪科技光谱共焦应用之金属隔膜静态重复性测量

2024/10/24 5:15:54 来源:https://blog.csdn.net/liyikeji/article/details/141061243  浏览:    关键词:立仪科技光谱共焦应用之金属隔膜静态重复性测量

01|检测需求:金属隔膜重复性测量

02|检测方式

为了保证精度,首先先用千分尺进行测量,得出相应的厚度数据,在选择合适的侧头,根据结果,我们现在立仪科技H4UO控制器搭配D27A20侧头

03|千分尺测量结果

经过测量可以厚度是84微米

04|光谱共焦测量结果

经过测量可以厚度83.417μm

05|60秒内重复精度展示(部分)

60秒内重复精度展示(部分)

06|光谱共焦侧头

D27A20侧头相关参数

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